介绍：美国Microtrac公司的S3500系列激光粒度分析仪，原理上采用经典静态光散射技术和全程米氏理论处理，利用现代模块式设计理念，使用获得专利的三激光光源技术，配备超大角度双镜头检测系统，以对数方式排列151个高灵敏度检测单元，无需扫描，平行通道实时接受散射光信息，提供准确可靠的测量信息。多种分散方式可选，干法与湿法测量之间的转换，系统自动识别，方便快捷。
主要特点：
1）专利Tri-Laser激光系统, 完全消除了不同波长光源对颗粒散射光分布“连接点”的影响和多次米氏理论（Mie Theory）数学处理的误差（米氏理论处理与波长有关）。
2）专利“Bluewave”激光技术，拓展测量下限至0.01µm。
3）无需扫描，同步接受全量程散射光信号，保证分析结果的高重现性及全量程范围的高分辨率。
4）首家引进“非球形”颗粒概念对米氏理论计算的校正因子，内置常用分析物质光学数据库，提高颗粒粒度分布测试的准确性。
5）系统自动对光，内置辅助光源用于检验和校正检测器的灵敏度。
6）多种样品分散系统可供选择，各种分散系统之间的转换简单方便，结果稳定一致。
7）现代模块式设计，可根据实际应用需要允许选择仪器的配置，以满足将来的任何需要。
8）数据处理灵活方便，体积分布，数量分布和强度分布，微分与累计百分比以及其他综合报告形式任意组合，数据存储兼容性强。
9）NIST（National Institute of Standards & Technology）标准物质指定认证仪器。
Introduction:The Microtrac S3500 is the first particle size analyzer that uses three precisely placed red laser diodes to accurately characterize particles like never before. The patented Tri-Laser System provides accurate, reliable and repeatable particle size analysis for a diverse range of applications by utilizing the proven theory of Mie compensation for spherical particles and the proprietary principle of Modified Mie calculations for non-spherical particles. The S3500 measures particle size from 0.02 to 2800 microns.
Features:
1) Tri–laser, red, multi-detector, multi-angle optical system
2) Algorithms that utilize Mie compensation and Modified Mie calculations for non-spherical particles
3) Measurement capability from 0.02 to 2800 microns
4) Wet and dry Measurements
5) Fixed detectors and lasers
6) Enclosed optical path ensures complete protection of the optical components leading to little or no operator intervention
7) Small bench footprint