简介
浮选液膜测试系统主要用于颗粒-气泡间液膜的薄化破裂测试，可深入研究气泡与颗粒相互作用，所采用的技术是Sheludko-Exerowa的显微干涉仪技术，即时观测液膜干涉条纹的变化，并基于干涉原理得出液膜厚度的变化。液膜薄化系统通过测量不同环境压力和温度下平衡薄膜的厚度，探索矿物与气泡之间的热力学性能。探索浮选过程中矿粒与气泡间TLF膜薄化动力学及膜的薄化机理。可直接观察液膜形成、生长至薄化破裂过程。瞬时采集液膜薄化过程中的干涉图案和基于Matlab的自软件计算膜厚度，实现测量精度达到纳米级以下（分子尺度）。
技术参数
光学系统
奥林巴斯研究级倒置光学显微镜
超长工作距离光学镜头组：500 nm - 3μm可调光学分辨率
双光源系统：科研级长工作时间汞弧灯光源和科研级高能量LED
薄膜厚度测量范围：5 – 6000 nm
厚度分辨率：0.2 nm
光路同时适用于透明和非透明矿物表面上的液膜研究
科研级CMOS光学相机
输出噪音：< 1.5 e-
输出格式：16位
液膜流量控制模块
提供多重精度液膜流量控制模块：0.01 μL/s – 1000 μL/s
提供纳米级闭合回路液膜流量控制模块：0.01 nL/s
闭合回路压电控制器，电容位移传感器
提供自动清洗模块
可注入含各种起泡剂的液体
测量环境控制模块
提供气氛控制腔用于压力和气体的控制；
可直接通入N2, CO2和不同湿度的空气；
超高精度压力控制系统和压力测量系统：±1 Pa
液膜温度控制模块
低噪音循环冷却
调控范围：10 – 50 oC
高精度闭路温度控制：± 0.1 oC
样品台
标准样品尺寸：12mm*12mm*2mm；
可以直接放入大小最大不超过50mm*50mm*10mm的样品
可以直接放入各种不透明或者透明样品用于观测液膜薄化破裂过程；
收费标准:
中心及团队标准：0/小时；500/样品校内标准：0/小时；1000/样品校外标准：0/小时；2000/样品